SJ 50033.8-1994 半导体分立器件.3DK205型功率开关晶体管详细规范
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ID： |
6C37BE3C6265459C819206289BBC00C7 |
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文件大小(MB)： |
0.5 |
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页数： |
12 |
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日期： |
2024-7-27 |
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SJ,中华人民共和国电子行业军用标准,SJ 50033/8-94,半导体分立器件,3DK205、3DK206、3DK207、,3dk208、3dk209、3dk210、,3DK305、3DK306、3DK307、,3DK308型功率开关晶体管详细规范,1994-09-30 发布1994-12-0I 实施,中华人民共和国电子工业部 批准,下载,中华人民共和国电子行业军用标准,半导体分立器件,3DK205型功率开关晶体管详细规范,SJ 50033/8—94,1范围,1.1主题内容,本规范规定了 3DK205A.I型NPN硅功率开关晶体管的详细要求。每种器件均按,GJB 33《半导体分立器件总规范》的规定,提供产品保证的三个等级（GP、G1和GCT级）,1.2外形尺寸,外形尺寸应按GB 7581《半导体分立器件外形尺寸》的B2 — 01C型及如下规定（见图1）：,寒B2-O1C,符卢,mm nom max,A 8. 63,12d 9,他L52,她0 966 1.092,￠1) 22.86,F 3.50,L 8,0 13, 9,L\ 1.52,姆3.84 4.2],q 29. 90 30. 40,13.58,旦4. 82,5 16.89,凡40. 13,lh 27.17,图1,1.3最大额定值,1994-12-01 实施,—1 —,中华人民共和国电子工业部1994-09-30发布,SJ 50033/8-94,型 号,尸い,Tc =25C,(W),VchO,CV),VCEO,(V),Peeo,(V),厶,(A),厶,(A),0,(C),Tg,CO,3DK2O5A 50 30,3DK205B 80 50,3DK205C no 80,3DK2O5D 50 150 no 6 3.0 1.0 175 -55-175,3DK2O5E 200 150,3DK205F 250 200,3DK205G 350 250,3DK2O5H 450 300,3DK2O5I 500 350,注:DTc>25'C,按333mWハC的速率线性地降额,1.4主要电特性（Ta =25'C）,注:1）aei W4。各档,其误楚不超过±2。%M哨>40各档,其误差不超过±10%,X极限值,如ス11,小=5.0V,1c = 1. 5 A,ド中制リイ匕SEmn ム加1 /.,% E = 10V,/c =(X 1A,f=3. 0MHz,(MHz),品,厶=0,V(2a ； 10V,/-0. IMI-b,(pF),^thl] —c),/f丒w5V,人-0. 7A,(C/W),Ic f l 5A,/匕=0- 15A,(V),ん= L5A,厶1 =(\ 15A,『母=-0. ISA,(ザ),型号、,max max min max max,3DK205A-T 红 15-25,橙25.40,黄40.55,绿55.80,蓝 80—120,0,5 1.2 0. 5 2.2 0.4 8 400 3,0,2引用文件,GB 4587双极型晶体管测试方法,GB 7581半导体分立器件外形尺寸,GJB 33 半导体分立器件总规范,GJB 128半导体分立器件试験方法,3要求,3-1详细要求,各项要求应按GJB 33和本规范的规定,3.2设计ヾ结构和外形尺寸,器件的设计,结构和外形尺寸应按GJB 33和本规范的规定.,3.2.1 引出线材料和涂层,-2 —,sj 50033/8-94,引出线材料应为可伐,引出线表面应为锡层或银层。对引出线涂层有选择要求时,在合同,或订货单中应予规定,3. 3标志,器件的标志应按GJB 33的规定,4质量保证规定,4.1 抽样和检验,抽样和检验应按GJB 33和本规范的规定,4.2 鉴定检验,鉴定检验应按GJB 33的规定,4.3 筛选（仅对GT和GCT级）,器件的筛选应按GJB 33表2和本规范的规定。下列测试应按本规范表1的规定进行,超,过本规范表1规定极限值的器件应予剔除,筛 选,（见GJB 33的表2）,测 试,GT和GCT级,7、中间电参数测试A：0C）! 和んFE1,8、功率老化见 4.3.1,9、最后测试按本规范表1的A2分组:,△丘め4初始值的100%或100卩A取较大若,△ん出〈初始值的±20%,4.3 -1功率老化条件,.功率老化条件如下;,[=162.5土 12. 5C,VCE -25V,二25W,4.4 质量?致性检验,质量一致性检验应按GJB 33的规定进行,4.4.1 A组检验,A组检验应按GJB 33和本规范表1的规定进行,4.4.2 B组检验,B组检验应按GJB 33和本规范表2的规定进行O,4.4.3 C组检验,C组检验应按GJB 33和本规范表3的规定进行O,4-5检验方法,检验方法应按本规范相应的表和下列规定,4-5-1脉冲测试,脉冲测试应按GJB 128的3. 3. 2.1的规定,—3 ―,Sj 50033/8-94,4 5.2热通,热阻测试应按GB 4587的2.10和下列规定,a1加功率时的厶=O.7A；,b. VCE =25V),c.基准温度测试点应为管壳;,d.基准点温度范围为25CW A <75 C ,实际温度应记录;,e.安装应带散热装置;,f,凡h「c’的最大极限值应为3. O C/W0,4 5.3 C组寿命试验,C组寿命试验应按GJB 33和本规范的规定进行,4-5.4恒定加速度,恒定加速度试验应按GJB 33和本规范的规定进行,表1 A组检验,检脸或试验,CB 4587,LTPD 符号,极限值,单国,方法条 件min Tn ax,A1分组GJB 128 5,外观及……
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